Q.半導体インパルス試験器で印加波形を確認したところ、立上りの後に約120MHz(8.3ns)の減衰振動波が確認されます。波形測定方法はCDN OUTをオシロスコープ付属のプローブで測定しました。原因を教えてください。
使用している半導体スイッチの特性です。
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試験で使用される周波数範囲はどのくらいですか?
試験で使用される周波数範囲は、80 MHzから6 GHzまでです。
Q.【試験器】インパルスノイズ試験器INS-S220とINS-S420の違いは何ですか?
パルス出力電圧に違いがありINS-S220は最大2kV、INS-S420は最大4kVとなっていますが、EUT電源容量は共に、単相AC240V /16A DC125V / 16A MAXです。INS-S220はパルス出力電圧により、パルス幅や繰返し周期の設定可能範囲が異なるため、詳細仕様は弊社カタログもしくはHPにてご確認願います。 HP↓ インパルスノイズ試験器(半導体リレー方式) INS-S220/S420 - 株式会社ノイズ研究所 (noiseken.co.jp)
Q.波形観測用アッテネータ00-00017Aを使用して、4kVもしくは2kVの波形観測は出来ますか?
製品仕様の最大電圧は、53.5Ω終端時の電圧となります。そ のため、50Ω終端時には4kV版の場合は、3.96kV(2kV版の場合は、1.98kV)が最大値となります。
Q.波形確認を行いたいのですが、確認方法はどのように行えば良いですか?
インパルスノイズ試験器以外にオシロスコープ(周波数帯域幅DC~600MHz以上)と波形観測用アッテネータ00-00017Aをご用意頂き、 インパルスノイズ試験器のPULSE OUTから出力される波形を波形観測用アッテネータを通し、オシロスコープで波形を確認します。 (入力インピーダンスは50Ωに設定) 【参考情報】 インパルスノイズ試験器の始業前点検 - 株式会社ノイズ研究所
【オプション】放電チップ12-00010Aについて
Q.詳細 放電チップ12-00010Aを使ってのギャップ放電試験でCRユニット:0Ω-500pFで試験を行いました。 1)放電チップ(ギャップ部)が黒ずんでしまいました。このまま使用しても良いのか? 2)放電チップ12-00010Aを使用する際に、CRユニット:0Ω-500pF品を使用した場合、一般的にどのような状態になるのでしょうか? 3)放電チップ12-00010Aを使用する際に、CRユニット:0Ω-500pF品を使用して、±13kV、±15kV、±18kVで試験をしたところ、放電ギャッ ...