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FAQ(よくある質問と回答)
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用語集
EMCに関連する用語集です。
Recent Articles
ISO10605 Ed.2の電源供給ありの間接放電について、規格では放電ガンのグランドケーブルの接続箇所は「HCP」または「GRP」とありますが、 グランドケーブルはどちらに接続しますか?
接続箇所はDUTに合わせて決めます。 規格ではHCPはシャーシ、GRPは地面を模擬しています。 DUTがシャーシに接地される場合はHCP、地面に接地される場合はGRPに接続します。
工場内の共通アースを使用していますが、雷サージ試験用に別途、アースを作る(分離アース)必要はありますか?
接地の規定は特にありません。共通接地で構いません。
IEC 61000-4-2の試験レベルで、接触放電では6kVの要求がありますが、なぜ気中放電では6kVの要求がないのですか?
接触放電は、試験電圧とピーク電流は、一次比例の関係ですが、 気中放電の場合、試験電圧が高くなるほど、頭打ちのピーク電流となり、 2kV⇒4kV⇒8kV⇒15kVというように、2倍、4倍、7.5倍の関係にしているためです。
【本体】半導体リレー方式のインパルスノイズ試験器の波形保証は試験器どの部分でしていますか?
PULSE OUT部でのみ波形保証としています。 CDN部分では波形保証はしていません。
【オプション】放電モジュール(GT-31S用CR)で1000pFを超えるものは作製可能ですか?
コンデンサのサイズが大きく、放電モジュール内に収まらないため、作製不可能です。
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雷サージ試験が規定されている主なJEC規格の番号は?
インパルス波形については主に JEC-212(1981)から改訂されたJEC-0202(1994)があります。 インパルス耐電圧試験法については主に JEC-210(1981)から改訂されたJEC-0103(2005)があります。 JEC-0202(1994)はほかの規格と統廃合され、JEC-0203(2022)とJEC-0204(2022)に変わっています。
雷サージ試験器で注入&リターン相は変えずに印加極性を+/-で切り替えた場合と、印加極性は変えずに注入&リターン相を切り替えた場合では、どちらも供試品にかかるノイズ波形は同じになるのでしょうか?
供試品にかかるノイズ波形は同じになると考えられます。
IEC 61000-4-18で規定されている100kHzと1MHzの減衰振動波形は、具体的にどのような場面で発生しますか?
緩やかな減衰振動現象(100kHz)は高/中電圧の屋外の配電設備のスイッチングなどでみられ、高電圧バスバーのスイッチングや工業プラントで発生すると予測されます。 一方早い減衰振動現象(1MHz)は、電力ネットワークの配線設備のスイッチギアやコントロールギアの動作などで発生すると予測されます。
インパルスノイズ試験とは何ですか?
インパルスノイズ試験は1970年代のEMC黎明期の頃から実施している電源系ノイズの耐性評価試験です。 IEC 61000-4シリーズなどの国際規格が制定される前より、メーカ各社が自主的に試験基準を定め、製品の品質向上に努めています。 この試験は、電源系ノイズの耐性の確保が主となっていますが、カップリングアダプタを使った信号線に対する耐性評価も実施されています。
インパルスノイズ試験を実施するメリットは何ですか?
高周波の伝導ノイズによるイミュニティ試験はIEC 61000-4-4(ファスト・トランジェント/バースト試験)が一般的となっていますが、インパルスノイズ試験は、「パルスの立上りが高速」・「パルス幅の可変が可能」・「コモンモード試験/ノーマルモード試験が行える」など、様々な試験パターンが可能な為、市場でのノイズトラブルに対して再現性の高い試験が期待できます。
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