試験結果はどのように分類されますか？
試験結果は、静電気放電に対する電子機器の反応に基づいて以下のように分類されます。
仕様範囲内の正常動作: 静電気放電があっても、電子機器が正常に動作し続ける場合。
自己回復が可能な一時的な劣化: 一時的に機能や性能が低下するが、ユーザーの介入なしに自動的に回復する場合。
オペレーターの介入が必要な一時的な劣化: 一時的に機能や性能が低下し、システムの再起動やオペレーターの介入が必要な場合。
回復不能な劣化: 機械やソフトウェアの損傷、またはデータの損失により、回復不能な劣化や機能の低下が発生する場合。
